半导体应变片在测量某一构件应变时，其电阻相对变化是由（）来决定的。

当前位置: 主页 > 结课作业 >

时间:2019-07-17 11:49来源:未知作者:admin 点击: 次

9. 半导体应变片在测量某一构件应变时，其电阻相对变化是由（）来决定的。 A. 变形 B. 电阻率的变化 C. 弹性模量的变化 D. 泊松比的变化

9. 半导体应变片在测量某一构件应变时，其电阻相对变化是由（）来决定的。

A. 变形

B. 电阻率的变化

C. 弹性模量的变化

D. 泊松比的变化

(责任编辑：admin)

要这答案加QQ：800020900 或加微信：apzy123 获取

顶一下

(0)

踩一下

(0)

------分隔线----------------------------

发表评论

栏目列表

推荐内容

热点内容

提示信息×

半导体应变片在测量某一构件应变时，其电阻相对变化是由（ ）来决定的。